儀器簡介:功能:快速、可靠地測量大部分半透明或具有輕微吸收性的薄膜材料厚度、光學(xué)常數(shù)、表面粗糙度。優(yōu)勢: 實(shí)時測量和分析各種多層次的、薄的、厚的,獨(dú)立的和不均勻的層。豐富的材料庫 (500多種材料),可支持參數(shù)化材料:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA 等。操作軟件支持一鍵式測量和分析,仿真和靈敏度分析
2022-01-07 【檢驗(yàn)檢測常見問題】 Tags: 分析儀器 物性分析 薄膜測厚儀