儀器簡介:功能特點:TEM用于觀察樣品內部組織形貌,特別適用于對納米級樣品的觀測;具有結構相的樣品,能在高倍數下觀測到晶格條紋。其中,STEM綜合掃描和普通透射電子分析的特點,可以觀察較厚的試樣和低襯度的試樣,得到原子序數襯度像。EDS支持點、線及面上的元素掃描,能準確分析樣品的元素分布。優勢:FEI Talos F200
2022-01-07 【檢驗檢測常見問題】 Tags: 分析儀器 微區分析 場發射透射電子顯微鏡