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【微區分析】等離子清洗儀

儀器簡介：功能特點：去除碳氫化合物對TEM和SEM樣本載臺或樣品的污染，以增強樣品的成像能力（低電壓），提高化學微量分析時的精度。優勢：不需要其他的原料，只要空氣就能夠滿足要求，使用方便而且沒有污染。主要技術參數：1.功率：5 - 99 W連續可調等離子功率。2.壓力：-2 Torr – 5 mTorr。應用領域：儀器廣泛應用于除去

2022-01-07 【檢驗檢測常見問題】
Tags：分析儀器微區分析等離子清洗儀清洗儀
【微區分析】多功能離子減薄儀

儀器簡介：功能特點：金屬、陶瓷等耐離子束樣品的減薄、清潔、拋光、切割。優勢：操作簡便，高效處理樣品，安全。主要技術參數：1.兩把非聚焦型的鞍型場槍，可對樣品的大面積區域進行離子拋光或減薄。2.離子束加速電壓調節范圍：0.8 kV - 10 kV（0.1 keV每步）；離子束流：最大4.5mA。3.樣品臺傾斜范圍：-120°至210°（精確

2022-01-07 【檢驗檢測常見問題】
Tags：分析儀器微區分析多功能離子減薄儀離子減薄儀
【微區分析】冷凍超薄切片機

儀器簡介：功能特點：可半薄和超薄切片，以及樣品表面光滑處理，為透射電鏡、掃描電鏡、原子力顯微鏡和光鏡檢驗生物和工業樣品提供服務。優勢：可以輕易地完成常溫/冷凍的超薄切片工作，操作方便。主要技術參數：1.樣品臂步進厚度：1 - 100 nm，步進1 nm，旋鈕調節；100 - 1000 nm，步進10 nm，旋鈕調節；1000 - 2500 nm，步

2022-01-07 【檢驗檢測常見問題】
Tags：分析儀器微區分析冷凍超薄切片機切片機
【微區分析】臺式掃描電子顯微鏡

儀器簡介：功能特點：可在低真空下觀察成分像、陰影像和凹凸像。樣品室空氣壓力大于5Pa，可實現對不導電樣品的無噴涂觀察。優勢：快速抽真空，操作簡便，快速得到圖像。主要技術參數：1.放大倍率：低倍模式 15 – 60 k。2.鎢燈絲電子槍加速電壓：15 kV、 5 kV。3.手動樣品臺樣品臺可移動范圍：X: ±17.5 mm；Y: ±17.5 mm。

2022-01-07 【檢驗檢測常見問題】
Tags：分析儀器微區分析臺式掃描電子顯微鏡電子顯微鏡
【微區分析】聚焦離子束場發射掃描電子顯微鏡

儀器簡介：功能特點：FIB-SEM雙束電鏡不但能進行超高分辨的掃描電鏡觀察，也能利用FIB對試樣進行切割、加工、沉積，從事內部和截面觀察及全靜態三維表征，以及特定圖形加工工作。高性能X射線能譜儀，支持點、線及面上的元素掃描，能準確分析樣品的元素分布。優勢：超高的FIB分辨率可以進行精確的試樣加工，尤其適合進行制定

2022-01-07 【檢驗檢測常見問題】
Tags：分析儀器微區分析聚焦離子束場發射掃描電子顯微鏡
【微區分析】場發射掃描電子顯微鏡

儀器簡介：功能特點：SEM主要用于固態樣品表面形貌的二次電子像、背散射電子像觀察及圖像處理。它既可以觀察和檢測非均相有機材料、無機材料及在微米、納米級樣品的表面特征，配備的EDS也可以支持點、線及面上的元素掃描，能準確分析樣品的元素分布。。優勢：SU8220冷場掃描電鏡采用全新設計的冷場發射電子槍大幅提高了探針

2022-01-07 【檢驗檢測常見問題】
Tags：分析儀器微區分析場發射掃描電子顯微鏡電子顯微鏡
【微區分析】場發射透射電子顯微鏡

儀器簡介：功能特點：TEM用于觀察樣品內部組織形貌，特別適用于對納米級樣品的觀測；具有結構相的樣品，能在高倍數下觀測到晶格條紋。其中，STEM綜合掃描和普通透射電子分析的特點，可以觀察較厚的試樣和低襯度的試樣，得到原子序數襯度像。EDS支持點、線及面上的元素掃描，能準確分析樣品的元素分布。優勢：FEI Talos F200

2022-01-07 【檢驗檢測常見問題】
Tags：分析儀器微區分析場發射透射電子顯微鏡