儀器簡(jiǎn)介:功能特點(diǎn):FIB-SEM雙束電鏡不但能進(jìn)行超高分辨的掃描電鏡觀察,也能利用FIB對(duì)試樣進(jìn)行切割、加工、沉積,從事內(nèi)部和截面觀察及全靜態(tài)三維表征,以及特定圖形加工工作。高性能X射線能譜儀,支持點(diǎn)、線及面上的元素掃描,能準(zhǔn)確分析樣品的元素分布。優(yōu)勢(shì):超高的FIB分辨率可以進(jìn)行精確的試樣加工,尤其適合進(jìn)行制定
2022-01-07 【檢驗(yàn)檢測(cè)常見問題】 Tags: 分析儀器 微區(qū)分析 聚焦離子束 場(chǎng)發(fā)射掃描 電子顯微鏡