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分析儀器光譜分析圓二色光譜儀計算機輔助藥物設(shè)計同源建模靶標釣取分子對接虛擬篩選檢驗檢測檢測數(shù)據(jù) 檢測數(shù)據(jù)有異議質(zhì)譜分析超高分辨四極桿組合靜電場軌道阱液質(zhì)聯(lián)用儀

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【物性分析】X射線光電子能譜儀

儀器簡介：功能：配置多項拓展功能，能實現(xiàn)掃描/平行成像、XPS采譜、角分辨XPS、刻蝕深度剖析、REELS、UPS、ISS等多項功能。優(yōu)勢：配置高達0.44 eV能量分辨率的半球能量分析器和束斑最小可調(diào)節(jié)縮小至14.5 μm的微聚焦單色化X射線源，能實現(xiàn)對樣品微區(qū)域的準確分析；中和槍系統(tǒng)包含同軸非準直電子中和源及同源雙束中和源，能

2022-01-07 【檢驗檢測常見問題】
Tags：分析儀器物性分析 X射線光電子能譜儀電子能譜儀
【物性分析】激光共聚焦顯微鏡

儀器簡介：功能：通過非接觸的方式進行樣品表面三維形貌觀察和測量。最高分辨率達10 nm，可以方便快捷地獲取影像，同時配備豐富的測量功能，可測量材料線粗糙度及面粗糙度。優(yōu)勢：采用了雙共焦系統(tǒng)，結(jié)合高靈敏度的探測器，可以測量那些具有不同反射率材料的樣品。多層模式可實現(xiàn)對透明樣品的頂部的透明層進行觀察和測量。O

2022-01-07 【檢驗檢測常見問題】
Tags：分析儀器物性分析激光共聚焦顯微鏡聚焦顯微鏡
【物性分析】表面張力測定儀

儀器簡介：功能：測量液滴與表面之間的粘附力；測量液體的表面/界面張力并分析表面張力中的極性力與色散力；測量固體材料（薄膜、片、棒，纖維、粉末）的接觸角；計算固體材料表面自由能。優(yōu)勢：是Dataphysics表面界面張力儀系列中的一款高端型號，具有精度高，功能強大，應(yīng)用廣泛，易操作等特點。主要技術(shù)參數(shù)：1、表面/界

2022-01-07 【檢驗檢測常見問題】
Tags：分析儀器物性分析表面張力測定儀測定儀
【物性分析】臺階儀

儀器簡介：功能：臺階高度、粗糙度、波紋度、翹曲度、磨損度、薄膜應(yīng)力等多種表面形貌測量及分析。低測定力模式不僅能夠避免劃傷樣品，也能對于軟性樣品進行測試，適合于各類晶片、薄膜、涂層、MEMS、平板顯示等領(lǐng)域的表面測量。優(yōu)勢：采用了Kosaka獨有的直動式臺階測量方式，有效避免了傳統(tǒng)杠桿式臺階儀所帶來的圓弧誤差。

2022-01-07 【檢驗檢測常見問題】
Tags：分析儀器物性分析臺階儀
【物性分析】薄膜測厚儀

儀器簡介：功能：快速、可靠地測量大部分半透明或具有輕微吸收性的薄膜材料厚度、光學(xué)常數(shù)、表面粗糙度。優(yōu)勢：實時測量和分析各種多層次的、薄的、厚的，獨立的和不均勻的層。豐富的材料庫 (500多種材料)，可支持參數(shù)化材料：Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA 等。操作軟件支持一鍵式測量和分析，仿真和靈敏度分析

2022-01-07 【檢驗檢測常見問題】
Tags：分析儀器物性分析薄膜測厚儀
【物性分析】掃描探針顯微鏡

儀器簡介：功能：AFM常用于測量樣品表面納米級形貌結(jié)構(gòu)及表面粗糙度信息，同時配置KPFM、PeakForce QNM等特殊的功能模塊，可獲取材料納米尺度的楊氏模量、粘滯力、壓電特性、摩擦系數(shù)、表面磁疇、電荷、電勢的分布圖。優(yōu)勢：Dimension FastScan是世界上掃描速度最快的原子力顯微鏡，在保證最高分辨和最優(yōu)異的儀器檢測性能的

2022-01-07 【檢驗檢測常見問題】
Tags：分析儀器物性分析掃描探針顯微鏡探針顯微鏡